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在可制造性設計的背景下,為了提高集成電路產品的良品率、縮短產品的上市時間,設計并應用了基于特殊測試目的的測試芯片被廣泛應用于良品率提升領域。測試芯片是包含有多個測試結構和焊盤的芯片,其可以通過外部測試設備對測試結構進行測試,通過測試芯片中的測試結構來獲得改善工藝和設計成品所需的數據。

TCMagic®是 Semitronix提供的測試芯片設計平臺,為設計劃片槽和MPW測試芯片提供完整的解決方案。它在單一平臺上提供版圖設計自動化、設計文檔和測試程序自動生成。

主要特征
? 豐富的內置參數化單元,其中包括各種PCM結構和成品率相關的測試結構
? 接受在 SmtCell®中創建的參數化單元
? 基于DOE的測試結構自動化
? 基于模版與表格創建模塊
? 自動設計文檔
? 自動生成測試程序
? 全面的設計錯誤檢查,包括內置DRC及第三方DRC,結構層次的引腳連接檢查與繞線連接檢查
主要優點 ? 提高版圖生成效率至少10倍
? 減少人為錯誤和所需勞動力
? 縮短測試程序的開發時間
? 方便快捷地從一個技術節點轉向另一個節點
? 保持穩定且獨立于版圖設計的工作平臺


Main GUI


Module GDSII Creation


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