本港台现场报码室
Your Yield Partner
提交信息

在集成電路制造過程中,通過對測試結構的電學參數測試提取工藝和器件性能的信息,并用于指導芯片產品的過程研發和生產控制。因此,對各種器件的電學參數測試是集成電路制造過程中的關鍵瓶頸,對技術研發來說也是一個制約學習周期的關鍵步驟。

Semitronix圍繞快速電學參數測試設備研發出了先進的電學參數測試解決方案。快速電學參數測試機(Semitronix Tester)通過系統架構與軟件設計相結合能夠為用戶提供持續準確和高速的測試解決方案,用于快速工藝監控。快速電學參數測試機與Semitronix的可尋址測試芯片解決方案結合使用時,能夠顯著地減少先進集成電路設計和晶圓制造過程中電學測量的測試時間;特別是與Dense Array技術相結合的應用中,經過優化設計的整體測試系統的測試速度可以達到40000 DUT/s。

Semitronix測試機包括標準型號測試機(T4000)和并行測試器(T4100)兩種型號以滿足客戶對精度和速度的要求。

? 能夠用于半導體晶圓制造的先進工藝中

? 極大地減少測試時間

? 與Semitronix的可尋址測試芯片解決方案結合使用,速度更快

? pA級及以下的精確度


本港台现场报码室 海南风采车赚钱吗 澳洲幸运10开奖软件下载 淘宝快3交流qq群 双色球坐标 pk10历史数据搜狐 020期曾道人公开一码 贵州茅台股票代码 下载山东11选5助手 浙江体彩61开奖号码 羽毛球规则图解